Elektrische testen op nagemaakte componenten: een koper's Guide

Wat elektrische testen onthult dat visuele inspectie niet kan

Visuele inspectie onderzoekt de buitenkant van een component. X-ray onderzoek kijkt naar de interne structuur. Ook vertelt u niet of het apparaat daadwerkelijk voldoet aan de elektrische specificatie op het etiket.

De kloof die dit schept is aanzienlijk. Een gerecycled onderdeel met opnieuw aangebrachte markeringen mag geen visuele of röntgenafwijkingen vertonen indien de opmerking vakkundig is uitgevoerd. Een echt pakket uit een andere apparaatfamilie kan een intern consistente structuur hebben die er correct uitziet onder röntgenfoto's. De fraude zit in de specificatie claim, niet in de fysieke constructie, en de enige manier om een specificatie fraude op te sporen is om te meten met de specificatie.

Dit gebeurt door het toepassen van bepaalde stimuleringsomstandigheden op het onderdeel en het meten van de respons ervan tegen de grenswaarden in het gegevensblad van de fabrikant. Een logische IC gespecificeerd voor 120MHz operatie voldoet ofwel aan de specificatie van de propagatievertraging op 120MHz of niet. Een op-amp claimen 1MHz bandbreedte levert die bandbreedte op de opgegeven gain of niet. De test is niet gebaseerd op externe indicatoren. Het meet de prestaties rechtstreeks.

Parametrische test vs. functionele test

Deze twee termen worden vaak door elkaar gebruikt in inkoopgesprekken, maar ze beschrijven verschillende dingen.

Parametrische test meet specifieke elektrische parameters geïsoleerd onder bepaalde omstandigheden. Invoerspanningsdrempels (VIL, VIH), uitgangsspanningsniveaus (VOL, VOH), rustige stroom (ICC), inputlekkage (IIL, IIH), voortplantingsvertraging (tpd), en instel- en houdtijden zijn allemaal parametrische metingen. Elke test past een bekende stimulans toe en meet een enkele parameter tegen de datasheetlimiet. Parametrische tests zijn nauwkeurig, herhaalbaar en gericht. Het is het juiste hulpmiddel voor het detecteren van een fout in de specificatie.

Functionele tests gaat na of de inrichting de beoogde functie end-to-end bij nominale bedrijfsomstandigheden uitvoert. Een functionele test voor een microcontroller kan een gedefinieerde instructiereeks uitvoeren en de juiste output verifiëren. Een functionele test voor een geheugenapparaat kan een gedefinieerd gegevenspatroon over de volledige adresruimte schrijven en lezen. Functionele tests bevestigen dat het apparaat werkt zoals bedoeld; parametrische tests bevestigen dat het werkt binnen de nominale specificaties.

Voor het opsporen van vervalsingen hebben beide een rol. Parametrische test vangst specificatie fraude. Functionele tests vangen apparaten die falen onder realistische bedrijfsomstandigheden. Voor opdrachten met een hoog risico moeten beide opdrachten worden gegeven.

Welke Parameters Matter voor welke Component Types

Niet elke parameter in een datasheet is even waarschijnlijk verkeerd vertegenwoordigd. Effectief elektrisch testen richt zich op de parameters die het meest frauduleus zijn voor de componentcategorie die wordt gescreend.

Component TypeKey Parameters om te testenTypische Fraude DetectedLogische IC's en MCUsPropagatievertraging, VIL/VIH, ICC op nominale frequentieSpeed rang up-markingAnaloge IC's (op-amps, ADC's)Verschuivingsspanning, bandbreedte, geluid, CMRRPrecision grade misrepresentationGeheugen (DRAM, NAND, NOR)Volledige capaciteit, toegangstijd, gegevensretentieDensheid en snelheid misrepresentatieVoltage regulatorsUitputnauwkeurigheid, uitvalsspanning, belastingsreguleringRating en graadfraudePower MOSFETs en transistorsRDS(on), gate drempelspanning, uitvalsspanningHuidige en spanningsclassificatie fraudeFPGA's en CPLD'sSpeed grade functionele karakteriseringSpeed grade misrepresentation

De test richten op het bekende fraudepatroon voor de componentcategorie is effectiever dan een algemene testroutine. Een laboratorium dat elke parameter voor elk apparaattype test, kost geld voor parameters met een lage waarschijnlijkheid. Een laboratorium dat zich richt op de parameters die het vaakst verkeerd vertegenwoordigd zijn voor dat specifieke apparaat, heeft meer kans om te vangen wat belangrijk is.

Welke Parameters Matter voor welke Component Types

Niet elke parameter in een datasheet is even waarschijnlijk verkeerd vertegenwoordigd. Effectief elektrisch testen richt zich op de parameters die het meest frauduleus zijn voor de componentcategorie die wordt gescreend.

Logische IC's en MCU's Test: Voortplantingsachterstand, VIL/VIH, ICC bij nominale frequentie Typische fraude: Snelheidsgraden up-marking.

Analoge IC's (op-amps, ADC's) Test: Uitschakelspanning, bandbreedte, ruis, CMRR Typische fraude: Precisiegraad verkeerde voorstelling.

Geheugen (RAM, NAND, NOR) Test: Volledige capaciteit, toegangstijd, bewaren van gegevens Typische fraude: Dichtheid en snelheid verkeerde voorstelling.

spanningsregelaars Test: Outputnauwkeurigheid, uitvalspanning, belastingsregeling Typische fraude: Waardering en graad fraude.

Power MOSFET's en transistors Test: RDS(on), gate drempelspanning, storingsspanning Typische fraude: Stroom en spanning rating fraude.

FPGA's en CPLD's Test: functionele karakterisering van snelheidsgraden Typische fraude: Verkeerde voorstelling van snelheidsgraden.

De test richten op het bekende fraudepatroon voor de componentcategorie is effectiever dan een algemene testroutine. Een laboratorium dat elke parameter voor elk apparaattype test, kost geld voor parameters met een lage waarschijnlijkheid. Een laboratorium dat zich richt op de parameters die het vaakst verkeerd vertegenwoordigd zijn voor dat specifieke apparaat, heeft meer kans om te vangen wat belangrijk is.

Elektrische testen in het AS6171-raamwerk

AS6171 is de SAE-norm voor de detectie van nagemaakte elektronische componenten. Het organiseert testmethoden van de minste tot de meest invasieve, met elektrische testen zitten in het midden van de reeks: na visuele inspectie en röntgenfoto, en vóór chemische en destructieve methoden.

Deze volgorde is opzettelijk. Visuele inspectie en X-ray zijn niet-destructief en kunnen tegen relatief lage kosten op de volledige partij worden toegepast. Voor elektrische tests is het nodig om een specifiek testfixatiemiddel voor de inrichting vast te stellen en tijdens het proces onderdelen te verbruiken, met name voor proeven bij extreme temperaturen. Chemische en onthoofdingsmethoden zijn destructief en worden alleen toegepast wanneer eerdere tests geen overtuigend resultaat hebben opgeleverd.

Voor een koper die testen uitvoert tegen het AS6171-raamwerk is elektrische testen doorgaans de stap waarbij een definitieve echtheidsbepaling wordt bereikt voor specificatiegerelateerde fraude. Een onderdeel dat langs visuele en X-ray, maar niet parametrische testen is geïdentificeerd in het elektrische stadium, zonder de kosten van destructieve methoden.

Wat een testrapport moet omvatten

Een testrapport van een bevoegd inspectielaboratorium moet voldoende informatie bevatten om de testomstandigheden te reconstrueren en het resultaat onafhankelijk te beoordelen. Er moet ten minste worden gespecificeerd:

• De geteste parameters en de omstandigheden waaronder zij werden gemeten

• De datasheetlimieten van de metingen werden vergeleken met de brondatasheet

• De gemeten waarde voor elke parameter en elke geteste inrichting

• De gebruikte steekproefgrootte en steekproefplan

• Een duidelijke bepaling van de pass of fail per apparaat en per partij

• De identiteit van het laboratorium en de datum van de tests

Een rapport waarin alleen wordt vermeld "geteste component, pass" zonder te vermelden welke parameters zijn gemeten, onder welke omstandigheden en tegen welke grenswaarden geen geloofwaardig testverslag is. Vraag voordat u een test uitvoert om een monsterrapport te zien. Een laboratorium dat niet kan voorzien in een laboratorium of dat weigert de methodologie bekend te maken, is geen geschikte bron voor inspectie met hoge inzet.

Hoe Maketronics elektrische testen toepast

Voor aankopen met een hoger risico, Maketronics Assurance het ontwerp van elektrische en parametrische tests wanneer het risicoprofiel van de eis dit rechtvaardigt. We bepalen welke parameters te testen op basis van de componentcategorie en de bekende fraudepatronen voor dat apparaattype, in plaats van het toepassen van een generieke testroutine. Elk inspectieresultaat wordt gedocumenteerd met de geteste parameters, de gemeten waarden, de datasheetlimieten en een pass/fail bepaling voor verzending.

Een verouderde component uit een secundair kanaal halen en vertrouwen nodig hebben dat het voldoet aan de specificaties die het beweert? Praat met het Maketronics team over wat Maketronics Assurance dekt en wanneer elektrisch testen is de juiste stap voor uw eis.