Elektrisk prøvning for Counfeit Components: En købers guide

Hvad elektriske test viser, at visuel inspektion ikke kan

Visuel inspektion undersøger ydersiden af en komponent. X- ray undersøgelse ser på sin interne struktur. Ingen af delene fortæller dig, om apparatet opfylder de elektriske specifikationer på etiketten.

Den kløft, dette skaber, er betydelig. En genanvendt komponent med genanvendt mærkning kan ikke vise visuelle eller X- ray anomalier, hvis ommærkning er foretaget kompetent. En ægte pakke fra en anden enhed familie kan have en intern konsistent struktur, der ser korrekt under X- ray. Bedrageriet er i specifikationsanmodningen, ikke den fysiske konstruktion, og den eneste måde, hvorpå man kan afsløre en specifikationssvig, er at måle sig med specifikationen.

Elektrisk prøvning gør dette ved at anvende definerede stimuleringsbetingelser på komponenten og måle dens respons mod grænserne i fabrikantens datablad. En logisk IC, der er normeret til 120MHz-drift, opfylder enten specifikationerne for spredningsforsinkelse ved 120MHz eller ikke. En op- amp hævder 1MHz båndbredde enten leverer denne båndbredde ved den angivne gevinst eller det ikke. Testen er ikke baseret på eksterne indikatorer. Den måler ydeevnen direkte.

Parametric Test vs. Functional Testing

Disse to udtryk bruges ofte på skift i indkøbssamtaler, men de beskriver forskellige ting.

Parameterprøvning måler specifikke elektriske parametre isoleret under fastlagte betingelser. Tærskler for indgangsspænding (VIL, VIH), udgangsspænding (VOL, VOH), lydstrøm (ICC), indgangslækage (IIL, IIH), spredningsforsinkelse (tpd) og opsætnings- og holdtid er alle parametriske målinger. Hver test anvender en kendt stimulus og måler en enkelt parameter mod datasheetgrænsen. Parametrisk test er præcis, repeterbar og målrettet. Det er det rigtige værktøj til at afsløre specifikationsfejl.

Funktionsprøvning kontrollerer, at anordningen udfører sin tilsigtede funktion og slutter ved nominelle driftsforhold. En funktionel test for en mikrocontroller kan udføre en defineret instruktionssekvens og kontrollere korrekt output. En funktionel test for en hukommelsesenhed kan skrive og læse et defineret datamønster på tværs af hele adresseområdet. Funktionel prøvning bekræfter, at anordningen fungerer efter hensigten; parametrisk prøvning bekræfter, at den fungerer inden for dens nominelle specifikationer.

Begge dele har en rolle i forbindelse med afsløring af falskmøntneri. Parametrisk afprøvning af fangstspecifikationssvindel. Funktionel prøvning af fangstanordninger, der svigter under realistiske driftsforhold. I forbindelse med indkøb med høj risiko bør begge dele iværksættes.

Hvilke parametre der er afgørende for hvilke komponenttyper

Ikke alle parametre i et datablad er lige tilbøjelige til at blive misrepræsenteret. Effektiv elektrisk prøvning fokuserer på de parametre, der oftest svigagtigt for den komponentkategori, der screenes.

Component TypeKey Parametres to TestTypiske Svig DetectedLogic IC 'er og MCUsFormering forsinkelse, VIL / VIH, ICC på rated frequencySpeed grade up- markingAnalog IC (op- ampere, ADC' er) Offset spænding, båndbredde, støj, CMRPrecision grade misrepræsentationMemory (DRAM, NAND, NOR) Fuld kapacitet, adgangstid, data retentionDensity og hastighed misrepræsentation Voltage regulatorsOutput nøjagtighed, dropout spænding, load regulationRating and grade svight Power MOSFETs og transistorsRDS (on), gate tærskelspænding, opdeling af strøms- og spændingsspænding, opdeling af RPFPFPFPMPLMS 'er funktionær og funktionssSpeed RGPLS

Det er mere effektivt at rette testen mod det kendte svindelmønster for komponentkategorien end en generisk testrutine. Et laboratorium, der tester hver parameter for hver enhed type er at bruge omkostninger på lav sandsynlighed parametre. Et laboratorium, der fokuserer på de parametre, der oftest er misrepræsenteret for denne specifikke enhed, er mere tilbøjelige til at fange, hvad der betyder noget.

Hvilke parametre der er afgørende for hvilke komponenttyper

Ikke alle parametre i et datablad er lige tilbøjelige til at blive misrepræsenteret. Effektiv elektrisk prøvning fokuserer på de parametre, der oftest svigagtigt for den komponentkategori, der screenes.

Logiske IC 'er og MMU' er Test: Formeringsforsinkelse, VIL / VIH, ICC ved nominel frekvens Typiske svig: Hastighed kvalitet up- markering.

Analog IC (op- ampere, ADC 'er) Test: Offset spænding, båndbredde, støj, CMR Typiske svindel: Præcision kvalitet fejlrepræsentation.

Hukommelse (DRAM, NAND, NOR) Test: Fuld kapacitet, adgangstid, datalagring Typiske bedragerier: Massefylde og hastighed fejlrepræsentation.

Spændingsregulatorer Test: Output nøjagtighed, dropout spænding, belastning regulering Typiske svig: Bedømmelse og kvalitet svig.

MOSFET og transistorer Test: RDS (on), gate tærskelspænding, brudspænding Typiske bedragerier: Strøm- og spændingssvindel.

FPGA og CPLD 'er Test: Funktionel karakterisering af hastighedsklasse Typiske bedragerier: Misrepræsentation af hastighedsklasse.

Det er mere effektivt at rette testen mod det kendte svindelmønster for komponentkategorien end en generisk testrutine. Et laboratorium, der tester hver parameter for hver enhed type er at bruge omkostninger på lav sandsynlighed parametre. Et laboratorium, der fokuserer på de parametre, der oftest er misrepræsenteret for denne specifikke enhed, er mere tilbøjelige til at fange, hvad der betyder noget.

Elektrisk prøvning i AS6171-rammen

AS6171 er SAE-standarden for detektering af falske elektroniske komponenter. Det organiserer testmetoder fra mindst til mest invasive, med elektriske test sidder midt i sekvensen: efter visuel inspektion og X- ray, og før kemiske og destruktive metoder.

Denne sekventering er bevidst. Visuel inspektion og X- ray er ikke-destruktiv og kan anvendes på hele partiet til relativt lave omkostninger. Elektrisk prøvning kræver testfiksering, der er specifik for anordningen, og kan forbruge komponenter i processen, navnlig til prøvning ved temperaturekstremer. Kemiske og dekapsale metoder er destruktive og anvendes kun, når tidligere forsøg ikke har givet et afgørende resultat.

For en køber, der påbegynder test mod AS6171-rammen, er elektrisk prøvning typisk det skridt, hvor man når frem til en endelig ægthedsbestemmelse for specifik svig. En komponent, der passerer visuelle og X- ray, men ikke parametrisk test er blevet identificeret på det elektriske stadium, uden omkostningerne ved destruktive metoder.

Hvad en testrapport bør omfatte

En prøvningsrapport fra et kompetent inspektionslaboratorium bør indeholde tilstrækkelige oplysninger til at rekonstruere testbetingelserne og evaluere resultatet uafhængigt. Den skal som minimum angive:

• De testede parametre og de betingelser, under hvilke de blev målt

• Datasheet begrænser målingerne blev sammenlignet med, med kildedatasættet identificeret

• Den målte værdi for hver parameter og hver afprøvede anordning

• Den anvendte stikprøvestørrelse og prøveudtagningsplan

• En klar godkendelse eller fejlbestemmelse pr. anordning og pr. parti

• Laboratoriets identitet og prøvningsdato

En rapport, der kun angiver "komponent testet, passere" uden at afsløre, hvilke parametre der blev målt, under hvilke betingelser, og hvilke grænser der ikke er en troværdig testpost. Før prøvningen påbegyndes, bedes du se en prøverapport. Et laboratorium, der ikke kan levere et sådant, eller som falder for at afsløre metodologi, er ikke en egnet kilde til højstakes-inspektion.

Hvordan Maketronics anvendes elektrisk test

Ved køb med højere risiko Maketronics Assurance Provision electrical and parametric tests where the risk profile of the requirement request it. Vi bestemmer, hvilke parametre der skal testes baseret på komponentkategorien og de kendte svindelmønstre for den type udstyr, i stedet for at anvende en generisk testrutine. Hvert inspektionsresultat er dokumenteret med de testede parametre, de målte værdier, datasheetgrænserne og en pass / fail-bestemmelse før afsendelse.

Sourcing en forældet komponent fra en sekundær kanal og har brug for tillid til, at det opfylder den specifikation, det hævder? Tal med Maketronics team om, hvad Maketronics Assurance dækker, og hvornår elektriske test er det rigtige skridt for dit behov.